錐光鏡鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)

　　我們在使用偏光顯微鏡，則是利用顯微鏡的偏光振動性質(zhì)進行鑒別晶體物質(zhì)的各向異性或是各向同性。

　　這主要則表現(xiàn)為物質(zhì)的單折射率與雙折射率上面，而對于錐光鏡鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)，則主要是鑒定晶體的軸性

　　與興性以及切片的類型與光軸角等。

　　因此對于錐光鏡鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)除了對晶體平行光軸切片的一軸晶晶體和二軸晶晶體的一個干涉圖像的不同

　　之處。

　　而對于這種不同則是在于對干涉圖像的不同，這樣我們就可以對其進行區(qū)分光正負之分，或是對光性的中光率

　　分布形式。

標(biāo)簽

錐光鏡鑒定晶體光學(xué) 性質(zhì)

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